Microscope AFM AA2000

numériqueSTMde laboratoire

Résolution à l'échelle atomique Grande taille d'échantillon Traitement numérique du signal (DSP) pour de meilleures performances Système d'exploitation en temps réel intégré Connexion Ethernet rapide avec l'ordinateur Multi-fonctions Microscope à force atomique (AFM) Microscope à force latérale (LFM) Analyse de la force : Courbe I-V, courbe I-Z, courbe de force Image 3D en temps réel en ligne pour une meilleure observation Signaux multicanaux pour plus de détails sur l'échantillon Balayage Trace-Retrace, Balayage Back-Forward Multi-analyse : Granularité et rugosité Chargement des données pour une analyse plus approfondie Facilité d'utilisation Engagement rapide et automatique de la pointe Changement facile du porte-pointes, pour une commutation aisée entre STM et AFM Contrôle entièrement numérique, reconnaissance automatique de l'état du système Déplacement de l'échantillon par logiciel Fonction Nano-Movie : Collecte, stockage et relecture de données en continu Caractéristiques techniques Paramètres techniques Portée de balayage X-Y : ~ 10 micromètres Distance Z : ~ 2 micromètres Pixels d'image : 128 × 128, 256 × 256, 512 × 512, 1024 × 1024 Angle de balayage : 0 ~ 360 Taux de balayage : 0.1 ~ 100 Hz Électronique UNITÉ CENTRALE : processeur de signal numérique (DSP) 32 bits à 600 MHz de Texas Instruments CNA 16 bits rapide CAN 16 bits rapide Haute tension : 5 canaux Interface de communication : fast Ethernet 10M/100M Mécanique Taille de l'échantillon : Jusqu'à 45 mm de diamètre, jusqu'à 15 mm en utilisant un AA2000/AA3000, et jusqu'à 30 mm en utilisant un AA5000 ; Engagement : Engagement automatique avec une distance de déplacement de 30 mm et une précision de 50 nm Conception modulaire pour faciliter l'entretien et les mises à niveau futures Logiciel Logiciel de contrôle en ligne et logiciel de traitement d'images hors ligne