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Systèmes de préparation d'échantillons pour microscopie électronique
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... à utiliser pour la préparation des échantillons avant l'analyse, ce qui permet d'obtenir les meilleures données possibles à partir de vos échantillons de microscopie ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... dispositif semi-conducteur. Les micro-échantillons sont découpés ou taillés en différentes formes en faisant varier la direction incidente du FIB Exemple de configuration du système Système ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Le MC1000 est un instrument de préparation d'échantillons à utiliser avec un microscope électronique à balayage (MEB). Le MC1000 est conçu pour déposer une fine couche ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Le nettoyeur d'échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage à base d'UV pour minimiser ou éliminer la contamination par les hydrocarbures pour l'imagerie en microscopie électronique. Vue ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... préparer les échantillons en fonction de l'objectif. Le contrôle de la température de refroidissement, l'unité de support de protection de l'air et diverses options permettent la préparation de diverses ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Le système à large faisceau d'ions le plus avancé pour produire des échantillons de coupe transversale ou de fraisage à plat d'une qualité exceptionnelle pour la microscopie électronique. Caractéristiques Taux ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... de contraster jusqu'à 40 grilles en une seule fois. Il est simple à utiliser, programmable et rentable. Le colorant automatique QG-3100 augmente à la fois la qualité de la coloration et le rendement en minimisant ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
... rupture par la tête. D'une manipulation aisée Le système unique de tiroir permet un retrait sûr et pratique du couteau de verre sans outil supplémentaire. Opération aisée Une réinitialisation automatique ...
... application. Des résultats reproductibles Le système de polissage à triple faisceau ionique, Leica EM TIC 3X, permet la production de sections transversales et de surfaces polies pour la microscopie ...
... Le CROSS SECTION POLISHER™ (CP) est un dispositif permettant de préparer une coupe transversale d'un échantillon pour la microscopie électronique. Étant donné qu'une coupe transversale ...
Jeol
... énergie Omega, système d’échange automatique des échantillons à température cryogénique… Le système permet l’échange d’un ou de plusieurs échantillons ...
Jeol
... manuelle répétitive rendant l’observation SEM plus efficace et plus facile. Nouvelle fonction Simple SEM La fonction « Simple SEMTM » prend en charge le travail de routine quotidien. Échantillon ...
Jeol
... Le nettoyeur d'échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage à base d'UV pour minimiser ou éliminer la contamination par les hydrocarbures pour l'imagerie en microscopie électronique. Vue ...
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