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... les porte-échantillons eux-mêmes sont la principale source de contamination. Dans ce cas, le traitement au plasma s'avère souvent trop brutal au point d'altérer, voire de détruire l'échantillon. Les ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Hitachi High-Tech Europe GmbH
... IM4000 II est un système modulaire de polissage par ions argon commandé par ordinateur qui peut être équipé comme un polisseur de surface pure, comme un polisseur de sections transversales ou comme un ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... de plusieurs positions individuelles est également possible en option ; le porte-échantillon multiple optionnel permet de traiter automatiquement jusqu'à 3 échantillons. L'ArBlade 5000 / IM5000 est ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... de contraster jusqu'à 40 grilles en une seule fois. Il est simple à utiliser, programmable et rentable. Le colorant automatique QG-3100 augmente à la fois la qualité de la coloration et le rendement en minimisant ...
Boeckeler Instruments, Inc.
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... application. Des résultats reproductibles Le système de polissage à triple faisceau ionique, Leica EM TIC 3X, permet la production de sections transversales et de surfaces polies pour la microscopie ...
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Jeol
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... manuelle répétitive rendant l’observation SEM plus efficace et plus facile. Nouvelle fonction Simple SEM La fonction « Simple SEMTM » prend en charge le travail de routine quotidien. Échantillon ...
Jeol
... Le nettoyeur d'échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage à base d'UV pour minimiser ou éliminer la contamination par les hydrocarbures pour l'imagerie en microscopie électronique. Vue ...
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