Microscopes STEM

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microscope SEM
microscope SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,7 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plate-forme CFE-SEM révolutionnaire intègre ...

microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,1, 0,08 nm

... Le TEM/STEM unique d'Hitachi à 200 kV avec correction d'aberration : l'harmonie parfaite entre la résolution d'imagerie et la performance analytique 0.la résolution spatiale de 078 nm en STEM est obtenue ...

microscope TEM
microscope TEM
HT7800 series

Grossissement: 600 000, 800 000, 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... les analyses TEM modernes. Caractéristiques L'objectif à double mode d'Hitachi permet une observation facile à faible grossissement, un contraste élevé à grand champ, une haute résolution et bien plus encore, le tout ...

microscope SEM
microscope SEM
LVEM5

... premier microscope électroniquede table combinant les modes d’imagerie TEM, SEM et STEM Le plus petit TEM au monde… Le LVEM 5 est un microscope électronique en transmission ...

microscope à rayons X
microscope à rayons X
GRAND ARM™2

Résolution spatiale: 0,05 nm - 0,17 nm

... recherche en proposant le microscope le plus performant dans les domaines de la ultra haute résolution et de l’analyse dans une large gamme de hautes tensions. De nombreuses améliorations/développements ont été intégrés ...

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Jeol
microscope TEM
microscope TEM
JEM-ARM200F NEOARM

Résolution spatiale: 0,1, 0,07, 0,16, 0,11, 0,25 nm

Le monochromateur à double filtre Wien a été récemment développé pour JEM-ARM200F, il permet de réaliser une analyse EELS à ultra haute résolution en énergie à l'échelle atomique. Configuration Double filtre Wien avec le système ...

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Jeol
microscope optique
microscope optique
JEM-F200

Résolution spatiale: 0,23, 0,19, 0,16, 0,14 nm

... leurs besoins. Fort de son expérience sur le développement de la cathode froide pour sa gamme de microscopes corrigés ARM, JEOL a décidé de proposer un nouveau TEM non-corrigé intégrant sa fameuse cathode ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
MAGNA

... catalyseurs, nanotubes, nanoparticules et autres structures à l'échelle nanométrique) Excellente plateforme pour la métrologie SEM/STEM à l'échelle sub-nanométrique Mise en place rapide du faisceau d'électrons - les ...

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TESCAN GmbH
microscope STEM
microscope STEM

... proche Une nouvelle approche de l'expérience utilisateur STEM 4D-STEM analytique L'image complète de l'interaction entre le faisceau d'électrons et l'échantillon le 4D-STEM est la ...

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TESCAN GmbH
microscope droit
microscope droit
LMC series

... Conception robuste avec des cadres entièrement métalliques pour le marché des universités et des établissements d'enseignement supérieur ; poignées de transport doubles disponibles en 8 couleurs différentes pour l'identification en laboratoire ...

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