Microscopes SEM

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microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm

... avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité et une stabilité du faisceau supérieures, permettant une imagerie ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plate-forme FE-SEM révolutionnaire ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,7 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plate-forme CFE-SEM révolutionnaire ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
GeminiSEM series

Grossissement: 1 unit - 2 000 000 unit

ZEISS GeminiSEM est synonyme d'imagerie sans difficultés à une résolution sub-nanométrique. Ces FE-SEM (microscope électronique à balayage à émission de champ) excellent tant dans l'imagerie que dans ...

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ZEISS Microscopy
microscope SEM
microscope SEM
LVEM5

... premier microscope électroniquede table combinant les modes d’imagerie TEM, SEM et STEM Le plus petit TEM au monde… Le LVEM 5 est un microscope électronique en transmission ...

microscope SEM
microscope SEM
VEGA

Grossissement: 1 000 000 unit

... TESCAN Essence™, qui est au cœur de tous les instruments SEM et FIB-SEM de TESCAN. Un opérateur qui apprend sur le TESCAN VEGA Compact peut facilement faire la transition vers d'autres microscopes ...

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TESCAN GmbH
microscope optique
microscope optique
VEGA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN VEGA avec source d'électrons à filament de tungstène combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition élémentaire dans une seule fenêtre ...

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TESCAN GmbH
microscope optique
microscope optique
MIRA

... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN MIRA avec source d'émission d'électrons FEG Schottky combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition élémentaire dans une seule fenêtre ...

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TESCAN GmbH
microscope optique
microscope optique
SU9000II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm

... avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité et une stabilité du faisceau supérieures, permettant une imagerie ...

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Hitachi High-Technologies
microscope SEM
microscope SEM
JSM-IT800

Résolution spatiale: 0,5 nm - 3 nm

... des champs scientifique de la biologie aux sciences durs des matériaux. Le microscope électronique à balayage JSM-IT800 utilise une plateforme facile d’utilisation, le SEM Center, cette plate-forme ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
SEM

... résolution abordables et faciles à utiliser était limité. Avec notre microscope électronique, vous êtes en mesure de visualiser à l'échelle submicronique et nanométrique. Notre microscope électronique ...

microscope optique
microscope optique
SH-5500P

Grossissement: 150 unit
Résolution spatiale: 5 nm

- 5 axes entièrement motorisés - L'inclinaison de -45 à +90 degrés permet une observation parfaite de l'échantillon. - Permet la reconstruction 3D à partir d'images stéréo SE couplées ou de 4 images en électrons rétrodiffusés BSE - ...

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